Chế độ Top View chính xác sử dụng Hộp trích xuất

        Dữ liệu kiểm tra mối hàn cần được ghi lại để có được toàn bộ lợi ích của việc sử dụng kỹ thuật siêu âm mảng điều pha.

        Dữ liệu kiểm tra đầy đủ không chỉ giúp phân tích sâu hơn mà còn cung cấp thêm thông tin rõ ràng khi xác định khuyết tật. Ưu điểm này mở rộng việc sử dụng siêu âm mảng điều pha để cho phép người kiểm tra thay thế chụp ảnh phóng xạ trong các điều kiện nhất định (ASME Code, Section VIII, Division II). Trong trường hợp cụ thể này, tiêu chí loại bỏ của dữ liệu kiểm tra được phân loại và dựa trên kỹ thuật không biên độ. Nói cách khác, biên độ xung phản hồi không còn là yếu tố quyết định liệu một khuyết tật có bị loại bỏ hay không. Đúng hơn, nó là dữ liệu thể tích tổng thể (chiều cao và chiều rộng). Đây là khi hộp trích xuất rất hữu ích để phân tích thêm dữ liệu kiểm tra.

        Sử dụng các hộp trích xuất độc đáo của Sonatest, người kiểm tra có thể trích xuất xuất trực tiếp chiều cao và chiều rộng của khuyết tật. Hơn nữa, ở cả hai chế độ xem TOP và END, có thể dễ dàng hiển thị chính xác dữ liệu thể tích ​​của mối hàn để trực quan khuyết tật và thuận tiện cho việc giải đoán.

Hình 1: Chế độ Top View không rõ ràng (trái) và chế độ Top View biểu diễn chính xác (phải)

        Điều đáng nói là hầu hết các thiết bị siêu âm mảng điều pha không thể thể hiện chính xác dữ liệu thể tích ​​của mối hàn. Các hệ thống xem chiếu của các thiết bị này không chính xác vì chúng được tạo ra bằng cách căn chỉnh lại từng A-Scan từ góc ban đầu thành góc 0 độ cố định. Trong nhiều trường hợp, điều này có thể ẩn thông tin ở chế độ Top View. Hình 1 ở trên cho thấy một ví dụ thuyết phục về một khuyết tật ẩn bị nhầm lẫn như vậy. Ở bên trái, chế độ Top View cùng được tạo ra bằng cách căn chỉnh lại từng chùm. Đường quan sát được biểu thị bằng mắt. Mặt khác, ở bên phải, chế độ Top View được tái tạo lại hoàn toàn, từng mẫu một (hoặc từng điểm ảnh) theo cách mà chế độ Top View sau đó chính xác về mặt hình học.

        Điều này sau đó tạo ra hình ảnh thực tế với biểu diễn hình học chính xác và không che khuất khuyết tật một cách nhầm lẫn.

        Một cách khác để hiểu sự khác biệt giữa hai cách tiếp cận là tham khảo Hình 1. Ở cả bên trái và bên phải, người kiểm tra có thể áp dụng phép dịch từ đường xem trong S-Scan sang đường xem ở phần dưới của hình ảnh.

        Thường xuyên có những trường hợp sai sót tiềm ẩn khiến người kiểm tra bỏ sót khuyết tật. Rỗ khí, xỉ hoặc nứt trong chiều dày thứ hai của đường truyền có thể dễ dàng bị che khuất bởi chỉ thị hình học chân.

        Đối với mã ASME được đề cập ở trên, có một lợi ích đáng kể trong việc đảm bảo chế độ Top View được trình bày đúng cách. Với sự thể hiện chính xác về mặt hình học của chi tiết ở chế độ xem Top View và sử dụng bảng màu xám, sau đó dễ dàng tạo ra một hình biểu diễn rất giống với phim chụp ảnh phóng xạ (xem Hình 2). Trong nhiều trường hợp, điều này giúp người kiểm tra đã quen với phim ảnh chụp phóng xạ hiểu và hình dung rõ hơn các khuyết tật bằng cách sử dụng siêu âm mảng điều pha (PAUT).

Hình 2: Kiểm tra siêu âm mảng điều pha (PAUT) thay thế chụp ảnh phóng xạ (RT)

* XEM BÀI VIẾT GỐC DẠNG PDF (TIẾNG ANH)