Phân tích quang phổ phát xạ (OES)

SECSLCD

Hotline: 0904685835
E-mail: secs.lcd@gmail.com

Vietnamese x Home x About Us x Site Map

Danh mục sản phẩm

Thiết bị kiểm tra không phá hủy (NDT)

Siêu âm Phased Array (PAUT) Siêu âm truyền thống (UT) Siêu âm đo chiều dầy (UTM)

Siêu âm đo chiều dầy ăn mòn Siêu âm đo chiều dầy chính xác Siêu âm đo chiều dầy lớp phủ

Siêu âm EMAT đo chiều dày Đầu dò siêu âm và phụ kiện

Đầu dò siêu âm UT Đầu dò siêu âm mảng PAUT Đầu dò siêu âm TOFD Mẫu chuẩn siêu âm UT

Kiểm tra dòng điện xoáy (ECT)

Kiểm tra dòng điện xoáy (ECT) Kiểm tra dòng xoáy mảng (ECA)

Thử kín bằng chân không

Thử kín chân không kiểu hộp phẳng Thử kín chân không góc trong Thử kín chân không góc ngoài Thử kín chân không góc trong 3 cạnh Thử kín chân không hộp mềm dẻo

Bộ quét siêu âm công nghiệp

Bộ quét thủ công

Kiểu Microbe Kiểu Rotix Kiểu Stix Kiểu Circ-it Kiểu Odi

Bộ quét tự động Bộ phận và phụ kiện

Nội soi công nghiệp (RVI)

Nội soi video (Videoscopes) Hệ thống đo và lưu trữ ảnh Nội soi video cầm tay Nội soi ống cứng (Borescopes) Nội soi ống mềm (Flexoscopes) Nguồn sáng (Light Sources)

Đo chiều dầy lớp phủ (CTM)

Trên nền kim loại sắt từ (F) Trên nền kim loại phi sắt từ (N) Trên mọi nền kim loại (FN) Trên nền phi kim (Composite, gỗ, bê tông, v.v...) Đầu dò đo lớp phủ

Kiểm tra độ bám dính lớp phủ Phân tích thành phần hợp kim

Phân tích huỳnh quang tia X (XRF) Phân tích quang phổ phát xạ (OES)

Thước đo mối hàn Gương soi kiểm tra

Tin tức và sự kiện

Trang chủ / Phân tích thành phần hợp kim / Phân tích quang phổ phát xạ (OES)

Hiển thị

Phân tích quang phổ phát xạ (OES)

0

Q4 MOBILE

Máy phân tích thành phần hóa học kim loại